芯片可靠性測試整體解決方案

提供可靠性測試整體解決方案:可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定,PCB設(shè)計制作,測試試驗,滿足各類芯片可靠性測試需求。

智能HTOL系統(tǒng)

智能HTOL設(shè)備特點:

1、自有專利技術(shù),自動化實時監(jiān)測功能(專利號:ZL202120878307.7);

2、方便靈活配置芯片狀態(tài)、施加信號,提高HTOL debug及Setup效率;

3、實時監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量;

4、監(jiān)測數(shù)據(jù)異常自動報警,實時發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大大提高HTOL效率,節(jié)省更多時間成本、FA成本;

5、全程數(shù)據(jù)實時記錄,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性;

6、實時參數(shù)正態(tài)分布圖,散點圖等分析數(shù)據(jù),有利于分析芯片溫度特性。

7、全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓質(zhì)量報告更有說服力,下游客戶更放心;

8、設(shè)備體積小,重量輕,功耗小,節(jié)能環(huán)保,干凈整潔;

9、操作簡單,易于上手。

HTOL方案設(shè)計制作

涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號,SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計,原理圖設(shè)計,PCB layout 加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測試試驗,出具可靠性報告等全方位服務。